Santec重磅新品！多通道偏振消光比測(cè)試儀， 30dB 高精度 PER 測(cè)量，效率與精準(zhǔn)雙飛躍

  隨著AI大模型參數(shù)量突破10萬(wàn)億級(jí)，數(shù)據(jù)中心帶寬需求呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)。在此背景下保偏FAU（Fiber Array Unit, 光纖陣列單元）以及ELSFP (External Laser Small Form-Factor Pluggables，外接激光光源可插拔模塊) 迎來(lái)了潛在的大規(guī)模發(fā)展。

  為了更好地滿足數(shù)據(jù)中心對(duì)光通信設(shè)備性能的要求，Santec 推出了全球首款多通道偏振消光比PER測(cè)試儀PEM-400。其能夠?qū)ΡＦ獸AU、ELSFP等光通信設(shè)備的偏振消光比進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量，確保這些設(shè)備在數(shù)據(jù)中心的高速通信網(wǎng)絡(luò)中發(fā)揮出最佳性能，從而為AI大模型的高效運(yùn)行提供有力支撐。

  解決目前多通道PER測(cè)試痛點(diǎn)

  針對(duì)多通道保偏FAU以及ELSFP的PER測(cè)試，目前行業(yè)內(nèi)只有單通道PER測(cè)試儀，用戶需要手動(dòng)通過(guò)夾具調(diào)節(jié)對(duì)準(zhǔn)每個(gè)通道來(lái)測(cè)試PER，測(cè)試效率低下并且因?yàn)槭謩?dòng)對(duì)準(zhǔn)夾具引入了不確定因素導(dǎo)致PER測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

  PEM-400 通過(guò)在高速功率計(jì)前設(shè)置旋轉(zhuǎn)起偏器來(lái)測(cè)量多通道高達(dá) 30 dB 的偏振消光比和偏振角，同時(shí)，還可以測(cè)量無(wú)源組件的插入損耗（Insertion Loss, IL）或有源組件的輸出功率。

  產(chǎn)品亮點(diǎn)

  多通道 PER 測(cè)試：集成了Santec高穩(wěn)定的光開(kāi)關(guān)（repeatability± 0.005 dB）實(shí)現(xiàn)了優(yōu)越的多通道PER測(cè)量，輸出端口高達(dá)24個(gè)。

  高達(dá)30dB的PER測(cè)量能力：獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)，使其擁有高達(dá)30dB PER的測(cè)量能力。

  一次連接完成所有測(cè)試：無(wú)需重新定位被測(cè)產(chǎn)品的通道或者使用校準(zhǔn)平臺(tái)來(lái)耦合被測(cè)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)一次連接即可完成所有通道的PER, 插入損耗（或光功率）以及偏振角度的測(cè)量。

  快速測(cè)量：獨(dú)有專利3mm直徑的探測(cè)器，使其擁有行業(yè)內(nèi)最快的自動(dòng)化測(cè)試速度，一根12芯的光纖陣列單元FAU能在30s內(nèi)完成所有通道的測(cè)量。

  測(cè)量參數(shù)：偏振消光比PER, 偏振角度Angle，插入損耗IL（或者絕對(duì)光功率Absolute Power）。

  可定制化：靈活的設(shè)計(jì)，使其實(shí)現(xiàn)定制化，滿足不同波長(zhǎng)偏振光源以及不同通道的測(cè)量需求。

  外置探頭：即將發(fā)布的外置探頭版本，能滿足客戶復(fù)雜的測(cè)試系統(tǒng)環(huán)境的搭建需求。

  測(cè)試系統(tǒng)

  1.    多通道光纖陣列FAU的PER，Angle以及IL測(cè)量系統(tǒng)(需要參考跳線)

  2.    多通道光纖陣列FAU的PER，Angle測(cè)量系統(tǒng)（無(wú)需參考跳線）

  3.    有源器件測(cè)試，如ELSFP, 測(cè)量PER以及絕對(duì)功率等參數(shù)

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